D.2 Galerietako materialak aztertzeko teknikak
Punta Begoña Galerietan zer material dauden jakiteko, tresna eta teknika analitiko zenbait erabili daitezke. Teknika hauetako asko suntsikorrak dira, hau da, laginak hartu eta disolbatu beharra dago, analisia egiteko. Baina ahal dela teknika ez suntsikorrak erabiltzen saiatu gara.
Erabili diren teknika ez suntsikorrak X izpien fluoreszentzia eta Raman espektrometria izan dira. Bi teknika hauek aukera gehiago ere eskaintzen dute, izan ere, in situ egin daiteke neurketa, galerietan bertan, laginik hartu beharrik gabe; horretarako, materialak zuzenean neurtzeko tresna eramangarriak erabiltzen dira.
Bi teknikak osagarriak dira:
- Lehenengo teknikak materialetako elementuei buruzko informazioa ematen digu (esaterako, sufreari eta kaltzioari buruzkoa) laginek energia handiagoko X izpiak jasotzen dituztenetan igorritako X izpiak neurtzen baitira.
- Bigarren teknikarekin zer molekula dauden jakin dezakegu (adibidez, kaltzio-sulfatoa, CaSO4, aurrez aipatutako elementuez eratua) laser baten erradiazioa jasotakoan dispertsatutako argian agertzen diren seinaleen arabera.
Analisi zehatzagoak egiteko, beharrezkoa da laginak hartu eta laborategian analizatzea, modu suntsikorrean edo bestela, beste tresna batzuekin (kromatografo ionikoa, ICP-MS, SEM-EDX, etab.) kontzentrazio txikiagoetan dauden eta in situ ikusi ezin diren elementuei edo konposatuei buruzko informazioa izateko. Teknika hauekin guztiekin aztertzen ditugu materialak; barruan eta modu homogeneoan aurkitutakoak jatorrizko materialak dira eta azaleran modu heterogeneoan zoletan, pitzaduretan eta orbainetan aurkitutakoak, aldiz, narriatutako materialak dira.
XRF espektroak, S eta Ca presentziarekin, jasotako lagin batean. Iturria: Punta Begoña Galeriak balioan jartzeko proiektua
Raman espektroak, igeltsuaren presentziarekin (S eta Ca konposatuak), jasotako lagin batean. Iturria: Punta Begoña Galeriak balioan jartzeko proiektua